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  1. 首頁
  2. 系所簡介
  3. 專任師資
    年度95
    等級SCI
    論文名稱Mechanical Characterization of Thin Films by the Capacitance-Voltage Measurement of Microstructures
    期刊名稱Journal Materials Science Forum
    全部作者Y. C. Hu, W. H. Gau
    卷號505~507
    頁次145~150
    總頁數6
    著作人數2
    作者型態
    使用語言英文
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