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年度
2014
等級
SCI
論文名稱
A Lot Inspection Sampling Plan based on EWMA Yield Index
期刊名稱
International Journal of Advanced Manufacturing Technology(SCI)
全部作者
Ching-Ho Yen, Muhammad Aslam and Chi-Hyuck Jun
卷號
75
期號
5-8
頁次
861-868
總頁數
8
著作人數
3
作者型態
First Author
使用語言
英文
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