年度94
類別會議論文
等級其他
論文名稱High Precision Young’s Modulus Extraction of the Films Through Measuring the Electric-Circuit Behavior of Microstructures
會議名稱Proceedings of ASME InterPACK’05
會議地點San Francisco, California, USA
會議開始時間2005-07-17
會議結束時間2005-07-22
發表年度2005
全部作者Y. C. Hu, W. H. Gau, and W. H. Tu
著作人數3
作者型態Corresponding Author
使用語言英文