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    年度2014
    等級SCI
    論文名稱A Lot Inspection Sampling Plan based on EWMA Yield Index
    期刊名稱International Journal of Advanced Manufacturing Technology(SCI)
    全部作者Ching-Ho Yen, Muhammad Aslam and Chi-Hyuck Jun
    卷號75
    期號5-8
    頁次861-868
    總頁數8
    著作人數3
    作者型態First Author
    使用語言英文

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