年度2016
等級其他
論文名稱Study of 600 V-Class Superjunction Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistors with Termination of Trench Structure and SIPOS
期刊名稱International Journal of Electrical and Electronics Engineering Research
全部作者張芳瑋,林智玲,周詠晃
期號6
頁次13-21
總頁數9
著作人數3
作者型態Corresponding Author
ISSN(ISBN)2250-155X
使用語言英文
所屬計畫案NSC 101-2622-E-211-004-CC3