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    年度2016
    等級其他
    論文名稱Study of 600 V-Class Superjunction Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistors with Termination of Trench Structure and SIPOS
    期刊名稱International Journal of Electrical and Electronics Engineering Research
    全部作者張芳瑋,林智玲,周詠晃
    期號6
    頁次13-21
    總頁數9
    著作人數3
    作者型態Corresponding Author
    ISSN(ISBN)2250-155X
    使用語言英文
    所屬計畫案NSC 101-2622-E-211-004-CC3
    置頂置頂