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    年度94
    類別會議論文
    等級其他
    論文名稱High Precision Young’s Modulus Extraction of the Films Through Measuring the Electric-Circuit Behavior of Microstructures
    會議名稱Proceedings of ASME InterPACK’05
    會議地點San Francisco, California, USA
    會議開始時間2005-07-17
    會議結束時間2005-07-22
    發表年度2005
    全部作者Y. C. Hu, W. H. Gau, and W. H. Tu
    著作人數3
    作者型態Corresponding Author
    使用語言英文
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