跳到主要內容
:::
    年度2020
    類別
    等級其他
    論文名稱Study of 100 V-Class Multi-Split-Gate Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistor with Low On-resistance
    會議名稱International Electron Devices and Materials Symposium
    會議地點Taoyuan, Taiwan
    主辦單位IEDMS
    會議開始時間2020-10-15
    會議結束時間2020-10-16
    全部作者A. C. Pan, J. L. Lin
    著作人數2
    作者型態

    建議最佳瀏覽 Microsoft IE 10 以上/Google Chrome/Mozilla Firefox 或相容W3C網頁標準之瀏覽器