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    年度2021
    類別
    等級其他
    論文名稱Study the leakage current of 60 V-class split gate trench MOSFETs with nitrogen oxides layer
    會議名稱International Electron Devices and Materials Symposium
    主辦單位IEDMS
    會議開始時間2021-11-18
    會議結束時間2021-11-19
    全部作者Y. C. Lee, J. L. Lin
    著作人數2
    作者型態Corresponding Author
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